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發(fā)布時(shí)間：2020-12-19 類別 ： 測(cè)量機(jī) - 三坐標(biāo)基礎(chǔ)
雖然不能準(zhǔn)確的知道三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的開發(fā)出來(lái)的時(shí)期，但大體上可以推定在1950年到1960年間登場(chǎng)的。初初使用的形態(tài)是在工具顯微鏡之類的2維測(cè)量機(jī)上附上Z軸裝置或者改造龍門式機(jī)器。與現(xiàn)在形態(tài)一樣的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以說(shuō)是在英國(guó)的F公司和意大利的D公司開始制造的。
在這以后三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，隨著百分表一樣的數(shù)碼位置檢測(cè)機(jī)和電腦以及精密加工技術(shù)發(fā)展，在精度及測(cè)量速度等方面實(shí)現(xiàn)了飛速的發(fā)展。
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展階段雖然難以明確區(qū)分，但大體可以如下分類。
| 區(qū)分 | 光柵尺 | 驅(qū)動(dòng)方式 | 精度 | 電腦 | 測(cè)頭 | 其他 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 第1時(shí)代 | Dial Gauge | 手動(dòng) | 0.1mm | 無(wú) | 機(jī)械式 | 龍門式機(jī)器改造 |
| 第2時(shí)代 | 感應(yīng)式傳感器(Inductosyn) | 操縱桿 | 0.01mm | 無(wú) | 接觸信號(hào)式 | 光柵尺發(fā)達(dá) 精度提高 |
| 第3時(shí)代 | 莫爾條紋 (Moire Fringe) | CNC | 0.001mm | 有 | 掃描式 | 軟件發(fā)達(dá) |
| 第4時(shí)代 | 激光干涉器 (Laser Interferometer) | CNC | 0.0001mm | 有 | 非接觸式 | 測(cè)頭交換 誤差保證 CAD 數(shù)據(jù) |
現(xiàn)在我們使用的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以看為已達(dá)到第三或者第四階段。
另外，超精密非接觸測(cè)量機(jī)和多關(guān)節(jié)式測(cè)量機(jī)器人，以及圓度儀或表面粗糙儀等特殊專用測(cè)量的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)也在登場(chǎng)，這些可以作為第五時(shí)代。
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的發(fā)展和其他技術(shù)的發(fā)展一樣，與工業(yè)的發(fā)展有著密切的關(guān)系。
隨著技術(shù)發(fā)展，生產(chǎn)的產(chǎn)品漸漸地變得更加復(fù)雜、多樣化，且隨著生活水平的提高，對(duì)提高產(chǎn)品性能和質(zhì)量的要求也增加了。
從加工側(cè)面看，隨著加工機(jī)械的發(fā)展，原來(lái)手動(dòng)加工的產(chǎn)品變成用CNC機(jī)械加工。所以用已有的測(cè)量方式再難以進(jìn)行瞬時(shí)間質(zhì)量管理了，自然地測(cè)量上也需要來(lái)提高生產(chǎn)效性的劃時(shí)代的方法。
上述所言，即能夠解決用老方法不能再測(cè)量的這些困難的問(wèn)題點(diǎn)的唯一的對(duì)案就是現(xiàn)在的三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
就是這些問(wèn)題點(diǎn)可以說(shuō)是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)發(fā)展的主要背景。
另外，最近利用三維CAD(Computer Aided Design)模型的脫機(jī)程序也與CAD的發(fā)展一樣正在高速的傳播著。所謂的脫機(jī)程序是指在假想的空間內(nèi)安裝三坐標(biāo)測(cè)量機(jī),安裝能代替實(shí)際產(chǎn)品的和產(chǎn)品一樣的CAD 模型來(lái)編寫、驗(yàn)證測(cè)量程序的一種程序.可以節(jié)約編寫測(cè)量程序時(shí)所需時(shí)間以及對(duì)所編寫的程序運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的撞擊情況進(jìn)行事先檢查(模擬功能)。
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